
TSD-100F-3P 三溫區(qū)冷熱沖擊試驗箱
真三溫區(qū)設(shè)計:獨(dú)立高溫區(qū)、獨(dú)立低溫區(qū)、獨(dú)立常溫區(qū)(測試區(qū)),精準(zhǔn)模擬復(fù)雜溫度沖擊環(huán)境。
軍具級密封:采用雙重硅橡膠密封系統(tǒng)與防凝露技術(shù),杜絕漏氣漏溫,確保測試數(shù)據(jù)真實(shí)有效。
全周期穩(wěn)定運(yùn)行:搭載進(jìn)口全封閉壓縮機(jī)組與PID智慧控制系統(tǒng),連續(xù)5000小時正常運(yùn)行驗證。
TSD-100F-3P 是一款高性能三箱式冷熱沖擊試驗箱。相較于傳統(tǒng)的兩箱式(吊籃式),本產(chǎn)品采用高溫區(qū)、低溫區(qū)、常溫測試區(qū)三溫區(qū)獨(dú)立結(jié)構(gòu)。
測試樣品在實(shí)驗過程中保持靜止(固定在常溫測試區(qū)),通過風(fēng)門快速切換,實(shí)現(xiàn)高溫與低溫的瞬間沖擊。這種設(shè)計不僅避免了傳統(tǒng)吊籃式因移動帶來的機(jī)械故障和樣品物理損傷,更憑借密封結(jié)構(gòu),保證了長期運(yùn)行下的溫度恒定與系統(tǒng)穩(wěn)定。
對于三溫區(qū)測試,風(fēng)門與箱體之間的密封性是決定設(shè)備成敗的關(guān)鍵。本機(jī)針對此痛點(diǎn)進(jìn)行了專項優(yōu)化:
無泄漏風(fēng)門結(jié)構(gòu):采用耐高溫、耐低溫的硅膠密封條,配合氣缸壓緊機(jī)構(gòu),確保高溫沖擊時冷區(qū)不串溫,低溫沖擊時熱區(qū)不泄漏。
全箱體保溫層:采用高密度聚氨酯硬泡+玻璃纖維復(fù)合保溫層,厚度達(dá)行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)的1.2倍,從源頭上鎖住能量,即便長時間運(yùn)行,箱體外殼溫度依然處于安全范圍。
防凝露技術(shù):測試區(qū)觀察窗配備多層中空鋼化玻璃與自動除霜系統(tǒng),配合密封膠條,杜絕了低溫測試時門框結(jié)霜、漏水現(xiàn)象。
核心制冷配置:選用國際品牌(如比澤爾/谷輪)全封閉或半封閉壓縮機(jī),配備高效油分離器與冷媒過濾器,確保制冷系統(tǒng)在頻繁啟停沖擊下依然穩(wěn)定強(qiáng)勁。
智能控制邏輯:搭載7英寸彩色觸摸屏控制器,具備預(yù)冷/預(yù)熱蓄能功能。系統(tǒng)自動計算PID參數(shù),防止溫度過沖,長期運(yùn)行數(shù)據(jù)漂移極小。
多重保護(hù)機(jī)制:具備壓縮機(jī)超壓、過載、過熱保護(hù),缺相保護(hù),水路缺水報警等30余項自檢功能,真正實(shí)現(xiàn)24小時無人值守穩(wěn)定運(yùn)行。
結(jié)構(gòu)布局:
上部:高溫區(qū)(常溫~+200℃)
中部:測試區(qū)(樣品放置區(qū),支持常溫停留)
下部:低溫區(qū)(-70℃~0℃)
測試模式:
高溫沖擊:高溫區(qū)升溫至設(shè)定值,風(fēng)門打開,熱氣流迅速進(jìn)入測試區(qū)。
低溫沖擊:低溫區(qū)降溫至設(shè)定值,風(fēng)門切換,冷氣流進(jìn)入測試區(qū)。
常溫暴露:無需移動樣品,風(fēng)門關(guān)閉,測試區(qū)自然恢復(fù)至常溫環(huán)境,模擬產(chǎn)品在自然狀態(tài)下的恢復(fù)過程。
應(yīng)用價值:特別適用于對機(jī)械沖擊敏感、需要避免物理位移的精密電子元器件、汽車電子、半導(dǎo)體芯片及航空航天部件的測試。







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