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半導(dǎo)體芯片檢測小型恒溫恒濕試驗箱

簡要描述:

半導(dǎo)體芯片檢測小型恒溫恒濕試驗箱
恒溫恒濕試驗箱也稱恒溫恒濕試驗機、恒溫恒濕實驗箱、恒溫機或恒溫恒濕箱,用于檢測材料在各種環(huán)境下性能的設(shè)備及試驗各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能。適用于電子、電器、通訊、儀表、車輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航空、航天等制品檢測質(zhì)量之用。

型號:SMD-80PF 瀏覽量:5949
更新時間:2026-04-16 是否能訂做:是

半導(dǎo)體芯片檢測小型恒溫恒濕試驗箱



半導(dǎo)體芯片檢測小型恒溫恒濕試驗箱


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-40℃~150℃寬溫區(qū)——覆蓋絕大多數(shù)行業(yè)測試需求

溫度范圍-40℃ ~ +150℃(任意可調(diào)),覆蓋電子元器件低溫工作、汽車零部件冷啟動、材料耐熱老化等絕大多數(shù)環(huán)境模擬需求。

濕度范圍20%RH ~ 98%RH(溫度在25℃~80℃時),支持恒定濕熱與交變濕熱測試。

控溫精度:溫度波動度≤±0.5℃,溫度均勻度≤±2.0℃,確保測試數(shù)據(jù)的精準性與重復(fù)性。

濕度精度:濕度波動度≤±2.5%RH,濕度偏差≤±3.0%RH。

溫變速率:升溫速率2.0℃~4.0℃/min,降溫速率0.7℃~1.0℃/min(非線性空載),滿足溫度應(yīng)力篩選試驗需求。



智能可程式控制系統(tǒng)——操作簡便、功能豐富

彩色觸摸屏控制器:采用自主研發(fā)7英寸全彩觸摸屏控制器,中英文可切換界面,人機交互直觀便捷。

超大程序容量:支持120組可編程序,每組最大100段,每個程序段可循環(huán)999次,滿足復(fù)雜交變測試程序的編輯需求。

P.I.D高精度控制:采用平衡調(diào)溫調(diào)濕方式(BTHC)配合P.I.D.+S.S.R同頻道協(xié)調(diào)控制,具有自動演算功能,可將溫濕度變化條件立即修正,使溫濕度控制更為精確穩(wěn)定。

通訊接口:標配RS-232通訊接口,支持數(shù)據(jù)導(dǎo)出與遠程監(jiān)控。

預(yù)約啟動功能:可預(yù)設(shè)設(shè)備啟動時間,實現(xiàn)無人值守自動運行,提高工作效率。

斷電記憶功能:具有斷電程序記憶功能,復(fù)電后自動啟動并接續(xù)執(zhí)行程序,防止意外斷電導(dǎo)致測試中斷。



高效制冷系統(tǒng)——節(jié)能環(huán)保、穩(wěn)定可靠

進口壓縮機:采用原裝法國泰康全封閉壓縮機制冷系統(tǒng),制冷量高、能耗低、振動小、噪音低,具備良好的低溫穩(wěn)定性和能效比。

風冷式冷卻方式:采用風冷式冷凝器,安裝簡單美觀,移動方便,無需額外配置冷卻水塔。

環(huán)保制冷劑:使用美國杜邦R404a綠色環(huán)保型制冷劑,符合國際環(huán)保標準。

制冷系統(tǒng)特點:全系統(tǒng)管路經(jīng)加壓24小時22kg檢漏測試,加溫、降溫系統(tǒng)獨立設(shè)計,所有冷凍系統(tǒng)動作程序由微電腦控制器控制。



箱體結(jié)構(gòu)

內(nèi)箱材質(zhì)SUS304優(yōu)質(zhì)鏡面不銹鋼板,具有良好的耐蝕性、耐熱性、低溫強度及機械特性,易于清潔維護。

外箱材質(zhì):優(yōu)質(zhì)冷軋鋼板表面靜電噴塑烤漆處理,造型美觀大方,質(zhì)感優(yōu)良,耐腐蝕。

保溫材質(zhì):采用高密度聚氨酯發(fā)泡保溫材料,厚度約80~100mm,有效隔離溫度傳導(dǎo),確保箱內(nèi)溫場穩(wěn)定,同時降低能耗。

觀察窗:多層中空鋼化玻璃觀察窗(280×380mm),內(nèi)嵌導(dǎo)電膜加熱除霜功能,防止水汽凝結(jié),確保試驗過程清晰可視。

箱門密封:門與箱體之間采用雙層耐高溫高彈性硅橡膠密封條,確保測試區(qū)密閉性,防止溫濕度泄漏。

移動便捷:機器底部采用高品質(zhì)可固定式PU活動輪及可調(diào)固定腳杯,方便移動及擺放定位。

無反作用把手:采用平面無反作用把手,操作容易,安全可靠。

半導(dǎo)體芯片檢測小型恒溫恒濕試驗箱


符合標準

本產(chǎn)品嚴格按照以下國內(nèi)外標準設(shè)計、制造與測試,確保測試數(shù)據(jù)的可靠性與合規(guī)性:

設(shè)備執(zhí)行標準(生產(chǎn)與驗收依據(jù))

標準編號

標準名稱

GB/T 10586-2006

濕熱試驗箱技術(shù)條件

GB/T 10589-2008

低溫試驗箱技術(shù)條件

GB/T 10592-2008

高低溫試驗箱技術(shù)條件

設(shè)備滿足標準(測試方法依據(jù))

標準編號

標準名稱

GB/T 2423.1-2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗A:低溫

GB/T 2423.2-2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗B:高溫

GB/T 2423.3-2016

環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Cab:恒定濕熱試驗

GB/T 2423.4-2008

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 2部分:試驗方法 試驗Db:交變濕熱(12h+12h循環(huán))

GB/T 5170.2-2017

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 2部分:溫度試驗設(shè)備

GB/T 5170.5-2016

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備檢驗方法 5部分:濕熱試驗設(shè)備

GJB 150.3A-2009

軍裝備實驗室環(huán)境試驗方法 3部分:高溫試驗

GJB 150.4A-2009

軍裝備實驗室環(huán)境試驗方法 4部分:低溫試驗

IEC 60068-2-1

環(huán)境試驗 2部分:試驗A 低溫

IEC 60068-2-2

環(huán)境試驗 2部分:試驗B 高溫

IEC 60068-2-78

環(huán)境試驗 2部分:試驗Cab 恒定濕熱




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